Quantitative Evaluation of Statistical Variability Sources in a 45-nm Technological Node LP N-MOSFET
نویسندگان
چکیده
منابع مشابه
Multilevel Interconnect Technology for 45-nm Node CMOS LSIs
We have developed a novel porous low-k material called nano-clustering silica (NCS) which has a low dielectric constant (k = 2.25) and high mechanical strength (Young’s modulus E = 10 GPa), and established manufacturing technology for 45-nm node multilevel Cu/Full-NCS interconnects which use NCS in trench layers and via layers to reduce the resistance-capacitance (RC) delay. Our Cu/Full-NCS int...
متن کاملComprehensive Simulation Study of Statistical Variability in 32nm SOI MOSFET
1. Abstract We have studied the statistical variability (SV) in thinbody silicon-on-insulator (TBSOI) MOSFETs with high-κ/metal gate stacks. We have considered the impact of the gate workfunction variation (WFV) in conjunction with random discrete dopants (RDD) and trapped interface charges. The simulations were carried with the Glasgow 3D ’atomistic’ simulator GARAND. Results for both threshol...
متن کاملevaluation of sadr eminence in safavid period
چکیده: یکی از دوره های مهم تاریخی ایران به لحاظ تأمین استقلال ملی مذهبی و حتی تأثیر آن بر فرهنگ و مذهب ایرانیان، دوره صفویه است. رسمیت دادن و رواج مذهب شیعه توسط شاه اسماعیل اول، یکی از مهمترین اقدامات این دولت محسوب می شود. بنابراین برای اجرای این سیاست، وی منصب صدارت را به عنوان منصبی مذهبی- حکو متی ایجاد کرد .این منصب از دوره ی تیموریان ایجاد شده بود ولی در اواخر این دوره اهمیت بیشتری یافت...
15 صفحه اولEvaluation of statistical variability in 32 and 22 nm technology generation LSTP MOSFETs
0038-1101/$ see front matter 2009 Elsevier Ltd. A doi:10.1016/j.sse.2009.03.008 * Corresponding author. E-mail addresses: [email protected] (B. C (S. Roy), [email protected] (A.R. Brown), A.Aseno The quantitative evaluation of the impact of key sources of static and dynamic statistical variability (SV) are presented for LSTP nMOSFETs corresponding to 32 nm and 22 nm technology generat...
متن کاملOriginal 45-nm Intel
The 45nm Intels Coret2 family of processors, codename PenrynD, improves upon the performance of Intel Core 2 processors through new microarchitecture features, a larger cache, new instructions, and enhanced powerand thermal-management schemes. This paper presents measured performance data that show the microarchitectural benefits of the Penryn family of processors on key applications and benchm...
متن کاملذخیره در منابع من
با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید
ژورنال
عنوان ژورنال: IEEE Electron Device Letters
سال: 2008
ISSN: 0741-3106,1558-0563
DOI: 10.1109/led.2008.922978